【解決方案】全尺寸觀測(cè)，精準(zhǔn)切割，全面覆蓋！國(guó)儀量子8英寸晶圓雙束全尺寸加工解決方案來了

更新時(shí)間：2025-09-25 點(diǎn)擊次數(shù)：224

在半導(dǎo)體制造邁向更精細(xì)工藝的時(shí)代，晶圓級(jí)缺陷分析、失效定位與微納加工已成為提升良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。國(guó)儀量子推出8英寸晶圓雙束全尺寸加工解決方案，集高分辨率成像與精準(zhǔn)離子束加工于一體，實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓的“觀測(cè)-分析-切割"全流程覆蓋，為半導(dǎo)體先進(jìn)制程提供強(qiáng)大技術(shù)支撐。

該方案搭載150mm大行程高精度樣品臺(tái)，可支持8英寸晶圓全域無損觀測(cè)與加工，配合外置光學(xué)導(dǎo)航系統(tǒng)與智能防碰撞算法，實(shí)現(xiàn)晶圓的快速、精準(zhǔn)定位與安全操作。系統(tǒng)配備肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍，分辨率達(dá)0.9 nm @15kV，離子束分辨率達(dá)3 nm@30kV，可在納米尺度下完成缺陷檢測(cè)、截面剖切、微結(jié)構(gòu)加工等復(fù)雜任務(wù)。

方案核心優(yōu)勢(shì)突出

【解決方案】全尺寸觀測(cè)，精準(zhǔn)切割，全面覆蓋！國(guó)儀量子8英寸晶圓雙束全尺寸加工解決方案來了

晶圓觀測(cè)范圍

國(guó)儀量子雙束電鏡方案不僅具備卓越的硬件性能，更搭載智能軟件系統(tǒng)，支持一鍵式亮度對(duì)比度調(diào)節(jié)、自動(dòng)聚焦、多格式圖像輸出，賦能用戶高效完成從缺陷發(fā)現(xiàn)到工藝優(yōu)化的全鏈條任務(wù)。

9月26-30日武漢

2025年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)

國(guó)儀量子八大電鏡解決方案

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