國儀量子電鏡-拉曼聯用解決方案通過光路優(yōu)化與系統集成兩種方式，在同一平臺完成微區(qū)定位、形貌觀測與拉曼檢測，徹底解決傳統跨設備分析中的定位誤差問題。用戶可在SEM圖像中精準鎖定目標區(qū)域（如缺陷、界面、納米顆粒），直接激發(fā)拉曼激光，同步獲取成分、物相、應力分布等化學結構信息，實現“所見即所析"。

系統支持廣泛材料類型，涵蓋半導體、地質樣品、二維材料、生物組織等，應用于失效分析、工藝優(yōu)化、科學研究等多個領域。無論是SEM-Raman一體化，還是SEM+Raman軟聯用配置，均具備高靈活性、高兼容性與強大數據處理能力。

國儀量子電鏡-拉曼聯用系統，助力用戶突破表征維度限制，看見更多、解析更深。